课程定位

面向研发、品质、测试、制造及NPI工程管理人员，将可测性思想与研发生产流程相连，通过测试路线、JTAG和体系货架技术讨论形成工程实践认识。

学习收获

• 理解可测性设计DFT的基本思想与原理。
• 熟悉DFT基本业务流程。
• 学习DFT设计方法。
• 学习构建DFT体系平台与货架技术。

课程模块

一、可测性设计(DFT)概述

• 1、产品生命周期V模型
• 2、电子信息产品测试所面临的问题
• 3、什么是可测性设计(DFT)
• 4、思考：如何深刻理解可测性设计(DFT)
• 5、可测性的物理特征表述
• 6、可测性的测度形式
• 讨论：以下各功能模块的可测性测度是怎样的？
• 7、可测性设计(DFT)的效益分析
• 8、可测性设计(DFT)基本要素
• 9、IPD模式下的DFT体系结构
• 10、可测性设计(DFT)基本过程
• 11、可测性设计(DFT)中常用术语及缩略语

二、可测性设计(DFT)需求

• 1、整机研发测试的可测性(DFT)需求来源
• 2、整机研发测试的可测性(DFT)需求
• 3、单板软件研发测试的可测性(DFT)需求来源
• 4、单板软件研发测试的可测性(DFT)需求
• 5、单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求来源
• 6、单板硬件研发测试的可测性(DFT)需求
• 7、单板生产测试的可测性(DFT)需求来源
• 8、单板生产测试的抽象模型
• 思考：单板生产测试的目的是什么？
• 9、单板生产测试路线
• 10、单板生产工艺测试基本原理
• 11、单板生产功能测试基本原理
• 12、单板生产测试的可测性(DFT)需求
• 讨论：本公司各产品适合的生产测试方案和路线是怎样的？
• 13、JTAG在生产测试中的应用
• 14、JTAG在生产测试中的可测性设计(DFT)需求
• 15、单板维修可测性设计(DFT)需求
• 思考：本公司生产维修有哪些诊断手段？

三、可测性设计(DFT)基本方法

• 1、输入输出通道设计——测试控制物理通道
• 2、输入输出通道设计——外部测试命令集
• 3、输入输出通道设计——测试控制管理
• 4、输入输出通道设计——测试信息存储与输出
• 5、输入输出通道设计——外部仪器输入输出接口
• 6、内置数据源设计——业务数据源自动生成
• 7、内置数据源设计——差错数据源自动生成
• 8、内置数据源设计——容限/极限数据源自动生成
• 9、内置数据源设计——故障数据源自动生成
• 10、能控性设计——测试数据源的设置与启动
• 11、能观性设计——系统配置状态监控
• 12、能观性设计——系统业务状态监控
• 13、能观性设计——单板运行状态监控
• 14、能观性设计——系统资源状态监控
• 15、能观性设计——系统其它状态监控
• 16、BIST设计——通道分层环回
• 17、BIST设计——故障诊断
• 18、BIST设计——初始化自检
• 案例解读

四、单板可测性设计(DFT)必须考虑的要素

• 1、机械结构设计
• 2、自检和自环设计
• 3、工装夹具设计
• 4、测试点设计
• 5、芯片控制引脚设计
• 6、边界扫描测试设计
• 7、EPLD/CPLD/FPGA设计
• 8、如何设计以减少测试点

五、可测性设计(DFT)工程实施

• 1、可测性设计(DFT)工程实施步骤
• 2、可测性设计(DFT)工程实施障碍
• 3、交流与探讨：如何构建可测性设计(DFT)体系和货架技术

适合人群

研发总监、系统工程师、研发经理、品质经理、测试经理、制造技术经理、NPI经理及骨干工程师。

师资信息

程老师
资深讲师研发工程技术产线总监 APECG 测试工程首席专家 中国电子协会 ATE 测试分会会员
工作经验： 华为公司从事通讯产品可测试设计的研究及开发工作，曾参与大型程控交换机、光通信产品、会议电视系统项目的可测试及可制造性工程实施，历任华为中央硬件研发平台部开发经理，兆天网络中试部经理等

课程咨询与报名

了解本期课程安排、师资及报名事项，请联系新中华学习网：400-061-6586，也可使用本页下方的报名咨询表。具体开课安排以正式通知为准。

温馨提示：本文内容根据课程内容整理，各模块实际讲授内容由授课老师根据学员情况灵活调整，最终以课堂授课为准。